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超洁净BN封装2D场效应晶体管:实现光刻兼容接触电极集成
发布时间: 2022-04-18点击次数: 11

研究背景与意义

二维(2D)过渡金属硫族化合物(TMC,如MoS₂、WSe₂)因原子级厚度、高迁移率、强光-物质相互作用,被视为超越硅CMOS的下一代电子学核心材料。然而,2D半导体载流子高度局域于表面,对界面杂质、陷阱、缺陷极度敏感——传统SiO₂衬底器件界面带电杂质密度高达10¹³ cm⁻²量级,导致迁移率低、阈值漂移、开关比差。六方氮化硼(hBN)因范德瓦尔斯表面超洁净、无悬挂键,成为理想封装介质:hBN全封装器件可将界面杂质密度降至~10¹¹ cm⁻²,迁移率提升至千量级,接近本征极限。

然而,hBN封装器件接触电极集成长期是瓶颈:TMC为半导体,无法像石墨烯采用边缘接触;传统纯干法转移(如逐层堆叠石墨烯/金属电极)步骤繁琐、成品率低、难以光刻兼容,限制大规模阵列与电路集成。如何在保持超洁净界面前提下,实现光刻兼容、灵活图案化接触电极,成为2D电子学从实验室原型向实用芯片转型的关键挑战

核心突破:直接转移策略实现光刻兼容接触的超洁净BN封装2D FET

南京大学超导电子学研究所陈健教授团队,首次提出简捷接触集成策略:在底hBN上光刻预定义Ni/Au接触电极,经退火去除残胶后,直接将顶hBN+TMC通道转移其上,实现全封装。器件性能媲美纯干法转移最优结果:平均扫描迟滞仅2 mV、界面带电杂质密度10¹¹ cm⁻²、低温迁移率>1000 cm² V⁻¹ s⁻¹、接触电阻20 kΩ·μm、有效势垒仅34 meV。

关键创新

1. 光刻兼容接触:底hBN上直接EBL+金属化,电极图案/尺寸无限制,兼容CMOS工艺。

2. 退火洁净化:250 °C Ar/H₂退火去除光刻胶残留,保持底界面超洁净。

3. 范德瓦尔斯堆叠接触:无刻蚀暴露通道,避免污染,实现低势垒欧姆接触。

4. 双极性验证:单极MoS₂与双极WSe₂通道均实现高性能,普适性强。

实验验证与极致性能

· 扫描迟滞:平均2 mV(全温区),陷阱密度10¹¹ cm⁻²(比SiO₂低2–3个量级);

· 接触质量:MoS₂接触电阻20 kΩ·μm、平带势垒34 meV(接近室温热能);

· 低温迁移率:6L MoS₂达4270 cm² V⁻¹ s⁻¹;2L WSe₂电子1078、空穴1521 cm² V⁻¹ s⁻¹;

· 散射机制:低温CI主导(nCI10¹¹ cm⁻²);高温声子主导(γ1.7 for MoS₂);

· 性能对比:迁移率、γ值与纯干法转移器件相当,远超SiO₂/HfO₂衬底。

科学意义与应用前景

1. 平衡性能与工艺:首次实现光刻兼容接触+超洁净封装,简化制备、提升成品率。

2. 揭示本征输运:低杂质、低势垒、高迁移率,接近TMC本征极限。

3. 大规模集成基础:光刻电极支持复杂互连,为2D电路、阵列传感器铺路。

4. 广阔应用

· 后摩尔电子学:高迁移率、低功耗逻辑/存储;

· 柔性/光电器件:hBN封装提升稳定性;

· 量子器件:洁净界面支持长相干时间;

· 产业化潜力:工艺简单、兼容现有光刻线。

图文导读

图1:器件制备流程与表征

(a) 工艺流程:底hBN光刻接触→顶hBN拾取TMC→转移封装→顶栅定义。(b–e) 不同阶段光学像。(f) AFM表面形貌(通道1.5 nm,顶/底BN26/12 nm)。(g) 厚度剖面。(h,i) 封装前后Raman/PL谱(峰位稳定、峰宽变窄)。

图2:MoS₂ FET电学性能

(a) 转移曲线(7.5/300 K),迟滞近零。(b) 陷阱密度对比(本工作~10¹¹ cm⁻²)。(c) Arrhenius图提取势垒。(d) 势垒vs栅压(平带34 meV);插图接触电阻vs温度。

图3:低温输运

(a,b) MoS₂转移曲线(对数/线性)。(c) MoS₂迁移率vs温度(最高4270 cm² V⁻¹ s⁻¹)。(d,e) WSe₂转移曲线。(f) WSe₂电子/空穴迁移率vs温度。

图4:性能对比

(a,c) MoS₂/WSe₂ γ值对比。(b,d) 低温迁移率对比(本工作与纯干法相当)。

论文信息

成果以“Clean BN-Encapsulated 2D FETs with Lithography-Compatible Contacts”为题,发表于材料界面领域顶级期刊 ACS Applied Materials & Interfaces。

文献来源

Binxi Liang, Anjian Wang, Jian Zhou, Shihao Ju, Jian Chen*, Kenji Watanabe, Takashi Taniguchi, Yi Shi, Songlin Li*“Clean BN-Encapsulated 2D FETs with Lithography-Compatible Contacts” ACS Appl. Mater. Interfaces 14, 18697–18703 (2022)

DOI: 10.1021/acsami.2c02956

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