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英寸级超导硒化铌薄膜的范德瓦尔斯自外延生长
发布时间: 2023-06-20点击次数: 12

研究背景与意义

超薄超导薄膜是超导量子计算、太赫兹探测、约瑟夫森结等前沿器件的核心材料。二维范德瓦尔斯超导体NbSe₂因其非中心对称结构展现出库珀对密度波、伊辛超导等奇异物态,并在超导电子器件中表现出巨大潜力。然而,受限于传统外延生长对衬底晶格的强依赖,英寸级、厚度可控、高质量NbSe₂薄膜的制备长期未能突破,严重制约其规模化集成应用。

如何摆脱衬底驱动,实现任意衬底上英寸级、原子级厚度可控的超导NbSe₂薄膜生长,成为二维超导材料领域亟待攻克的瓶颈难题

核心突破:范德瓦尔斯自外延(vdWSE)生长机制

南京大学超导电子学研究所吴培亨院士、张腊宝教授、王昊助理教授团队,首次提出范德瓦尔斯自外延(vdW Self-Epitaxy, vdWSE)策略,彻底摆脱衬底晶格外延驱动,实现任意衬底(蓝宝石、SiO₂、MgO等)上英寸级、厚度2.1–12.1 nm可控的超导NbSe₂薄膜生长

关键机制:

  • 旋涂铌前驱体溶液 → 高温硒化。

  • 表层先生成NbSe₂作为“自种子层”。

  • 上层vdW NbSe₂诱导下层Nb₂O₅/Nb₂Se₉逐层转化为NbSe₂,实现自上而下范德瓦尔斯外延图2)。

实验验证与极致性能

1. 英寸级均匀性:1英寸NbSe₂薄膜表面粗糙度仅0.44 nm,晶粒横向尺寸≈100 nm(图1a-c)。

2. 衬底普适性:在SiO₂/Si、Si₃N₄、Si、MgO、Al₂O₃等五种衬底上均实现高质量生长,晶向一致(图1d-f)。

3. 厚度精确可控:2.1 nm(≈3层)–12.1 nm(≈18层),原子级精度(图4)。

4. 超导性能顶尖

  • 6.4 nm薄膜Tc=5.1 K(所有合成NbSe₂薄膜最高)。

  • 全膜14点平均ΔTc=0.30 K(极高均匀性)。

  • 上临界场Hc2⊥(0 K)≈6.2 T,相干长度7.3 nm(图3)。

科学意义与应用前景

1. 生长范式突破:首次实现无衬底依赖的范德瓦尔斯自外延,颠覆传统“衬底驱动”认知。

2. 性能指标领先:英寸级+原子级厚度控制+最高Tc+最佳均匀性,全面刷新合成NbSe₂薄膜纪录(图5)。

3. 应用潜力巨大

  • 超导量子计算:高Tc、高均匀性NbSe₂薄膜可大幅提升约瑟夫森结相干时间。

  • 太赫兹探测:与南京大学SNSPD技术结合,打造极致性能太赫兹单光子探测器。

  • 柔性超导电子:衬底普适性+溶液法制备,开启柔性、可穿戴超导器件时代。

  • 可推广至MoSe₂、WSe₂等其他TMD材料,实现系列二维超导体规模化制备。

图文导读

图1:英寸级NbSe₂薄膜宏观与微观表征

(a) 1英寸NbSe₂/蓝宝石光学照片。(b) AFM显示表面粗糙度0.44 nm。(c) HRTEM显示完美六方晶格,FFT证实2H相。

图2:范德瓦尔斯自外延生长机制

(a) 生长示意图。(b) 不同温度SEM演变。(c) Nb 3d XPS随温度变化。(d) Raman谱证实Nb₂Se₉→NbSe₂转化。(e,f) 截面STEM揭示自上而下外延过程。(g) HAADF-STEM及EDS映射。

图3:超导性能表征(6.4 nm薄膜)

(a) R-T曲线,Tc=5.1 K。(b) 全膜14点Tc分布(平均5.02 K,ΔTc=0.30 K)。(c) 外磁场下超导转变。(d) 上临界场线性拟合,Hc2⊥(0 K)≈6.2 T。

图4:厚度可控生长

(a) 不同厚度(2.1–12.1 nm)英寸级薄膜照片。(b) AFM划痕测厚。(c) Raman峰位随厚度红移。(d) R-T曲线,Tc随厚度增加至5.1 K。(e) Tc与ΔTc统计,证实层间库珀对耦合。

图5:与文献对比

本工作实现英寸级+最高Tc+最佳均匀性,全面超越机械剥离、MBE、CVD等方法。

论文信息

成果以“van der Waals Self-Epitaxial Growth of Inch-Sized Superconducting Niobium Diselenide Films”为题,发表于纳米领域顶级期刊《Nano Letters》(影响因子10.8)

文献来源

Liang Ma, Xiaohan Wang, Hao Wang*, Xiangyi Wang, Guifu Zou, Yanqiu Guan, Shuya Guo, Haochen Li, Qi Chen, Lin Kang, Labao Zhang*, Peiheng Wu*“van der Waals Self-Epitaxial Growth of Inch-Sized Superconducting Niobium Diselenide Films” Nano Lett. 2023, 23, 6892–6899

DOI: https://doi.org/10.1021/acs.nanolett.3c01283

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